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MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：79

题名/责任者:
电子材料与元器件测试技术/周东祥, 潘晓光编著
出版发行项:
武汉:华中理工大学出版社,1994
ISBN及定价:
7-5609-0983-3/CNY5.40
载体形态项:
301页;20cm
个人责任者:
周东祥 编著
个人责任者:
潘晓光 编著
学科主题:
电子材料-参数测试-高等学校-教材
学科主题:
电子器件-参数测试-高等学校-教材
学科主题:
电子元件-参数测试-高等学校-教材
中图法分类号:
TM93
中图法分类号:
TN606
一般附注:
高等学校教材
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 定位
TM93/7743 0145031   密集书库一     可借 定位
TM93/7743 0350987   密集书库一     可借 定位
TM93/7743 0116305   理科综合阅览室     保留本 定位
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