MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：101
- 题名/责任者:
- 现代集成电路测试技术/《现代集成电路测试技术》编写组
- 出版发行项:
- 北京:化学工业出版社,2006
- ISBN及定价:
- 7-5025-8131-6/CNY95.00
- 载体形态项:
- 540页:图;26cm
- 其它题名:
- 集成电路测试技术
- 学科主题:
- 集成电路-测试
- 中图法分类号:
- TN407
- 书目附注:
- 有书目和索引
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