MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：72
- 题名/责任者:
- 互换性与技术测量基础/主编柳晖
- 出版发行项:
- 上海:华东理工大学出版社,2006
- ISBN及定价:
- 7-5628-1812-6/CNY25.00
- 载体形态项:
- 243页:图;26cm
- 个人责任者:
- 柳晖 主编
- 学科主题:
- 公差-理论-高等学校-教材
- 学科主题:
- 技术测量-高等学校-教材
- 中图法分类号:
- TG8
- 书目附注:
- 有书目
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