MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：68
- 题名/责任者:
- 实用软件测试:来自硅谷的技术、经验、心得和实例/李幸超著
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2006
- ISBN及定价:
- 7-121-03264-3/CNY25.00
- 载体形态项:
- 207页:图;24cm
- 其它题名:
- 来自硅谷的技术经验心得和实例
- 个人责任者:
- 李幸超 著
- 学科主题:
- 软件测试
- 中图法分类号:
- TP311.5
- 书目附注:
- 有书目 (第206-207页)
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