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- 题名/责任者:
- 混合信号集成电路测试与测量/(美) Mark Burns, Gordon W. Roberts等著 冯建华, 肖钢等译
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2009
- ISBN及定价:
- 978-7-121-08293-1/CNY69.00
- 载体形态项:
- 15, 531页:图;26cm
- 丛编项:
- 国外电子与通信教材系列
- 个人责任者:
- 伯恩斯 (Burns, Mark), 1962- 著
- 个人责任者:
- 罗伯茨 (Roberts, Gordon W.), 1959- 著
- 个人次要责任者:
- 冯建华 译
- 个人次要责任者:
- 肖钢 译
- 学科主题:
- 混合信号集成电路-测试技术-教材
- 中图法分类号:
- TN407
- 出版发行附注:
- 本书中文简体版专有出版权由美国Oxford University Press授权电子工业出版社。
- 责任者附注:
- Mark Burns，是美国德州仪器半导体公司(T1)的会士，混合信号IC测试和测量领域的著名专家，Burns由Ti资助花费三年时间撰写此书，作为他的工作职责的一部分。Gordon W．Roberts，目前是McGill大学电子和计算机工程系的教授。冯建华，博士，副教授，北京大学微电子学系。多以来一直从事VLSI测试和可测试性设计研究和教学工作。他最近的研究兴趣专注于数字、存储器、模拟和混合信号电路测试方法、自动测试矢量生成、低功耗测试和可测试性设计等研究工作。肖钢，高级工程师，北京华大泰思特半导体检测枝术有限公司董事、副总经理。多年来一直从事集成电路测试研完和生产工作，领导集成电路测试公司开发了许多高端SOC测试芯片，积累了丰 富的测试经验。
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书围绕模拟与混合信号电路的测试，包括许多示例，覆盖数字电路测试，但并不是全面的，因为关于数字测试已经有了大量的资料。示例和图表由现代先进工业技术浓缩而成，全书表达生动。在考虑这种技术的应用中，介绍了大规模混合信号电路和各种电路的测试。清楚地讨论了混合信号IC测试给产品的附加利益，以及清楚地定义了测试工程师的作用。
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