MARC状态：已编 文献类型：西文图书 浏览次数：100
- 题名/责任者:
- Digital systems testing and testable design = 数字系统测试和可测性设计 / Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman.
- 出版发行项:
- 北京 : 清华大学出版社, 2004.
- ISBN:
- 7302077479
- 载体形态项:
- xvii, 652 p. : ill. ; 26 cm.
- 变异题名:
- 数字系统测试和可测性设计
- 丛编题名:
- 国外大学优秀教材. 微电子类系列（影印版）
- 个人责任者:
- Abramovici, Miron.
- 附加个人名称:
- Breuer, Melvin A.
- 附加个人名称:
- Friedman, Arthur D.
- 论题主题:
- Digital integrated circuits-Testing.
- 论题主题:
- Digital integrated circuits-Design and construction.
- 中图法分类号:
- TN431.2
- 书目附注:
- Includes bibliographical references and index.
- 原版附注:
- Reprint. Originally published: New York, N.Y. : John Wiley Sons Inc., c1990.
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