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MARC状态:审校 文献类型:西文图书 浏览次数:93

题名/责任者:
Quantitative data processing in scanning probe microscopy : SPM applications for nanometrology / Petr Klapetek.
出版发行项:
Waltham, MA : William Andrew, c2013.
ISBN:
9781455730582 (hbk.)
载体形态项:
xi, 321 p. : ill. ; 24 cm.
丛编说明:
Micro & nano technologies series
个人责任者:
Klapetek, Petr.
论题主题:
Scanning probe microscopy.
论题主题:
Scanning probe microscopy-Data processing.
论题主题:
Qualitative research-Data processing.
中图法分类号:
TH742
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 定位
TH742/K63 6061465  - 12楼南外文图书阅览室     保留本 定位
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