MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：85
- 题名/责任者:
- C/C++程序缺陷与优化/于秀山 ... [等] 编著
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2014
- ISBN及定价:
- 978-7-121-22632-8/CNY49.00
- 载体形态项:
- 273页:图;24cm
- 个人责任者:
- 于秀山 编著
- 学科主题:
- C语言-程序设计
- 学科主题:
- C++语言-程序设计
- 中图法分类号:
- TP312
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书从作者所从事的软件测试项目中精选了与C/C++语言有关的程序缺陷，主要包括编码风格、内存管理、内存泄漏、缓冲区溢出、指针使用、安全等方面。
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9楼北计算机应用借阅室