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题名/责任者:

化学键的弛豫/孙长庆, 黄勇力, 王艳著

出版发行项:

北京:高等教育出版社,2017

ISBN及定价:

978-7-04-047750-4 精装/CNY179.00

载体形态项:

xiii, 647页, [10] 页图版:图 (部分彩图);25cm

丛编项:

材料基因组工程丛书;1

个人责任者:

孙长庆 著

个人责任者:

黄勇力 著

个人责任者:

王艳 著

学科主题:

化学键-弛豫-研究

中图法分类号:

O641.1

中图法分类号:

O482.53

一般附注:

国家科学技术学术著作出版基金资助出版

责任者附注:

孙长庆, 辽宁建昌人, 澳大利亚默多克大学物理学博士, 英国物理学会和英国皇家化学学会高级会员。

书目附注:

有书目和索引

提要文摘附注:

本书从成键与非键的形成、断裂、弛豫、振动以及相应的电子迁移、极化、局域化、致密化动力学角度出发, 旨在揭示固体表面化学吸附、异质界面、拓扑缺陷、低维结构等非常规配位体系的各种物理化学性能的微观起源及其在外场作用下的演化规律。着重介绍了键弛豫理论、电子能量局域钉扎极化理论、局域键平均近似原理和数值算法、计量谱学实验以及定量信息提取技术及其应用。

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