| 暂存书架(0) | 登录

MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:70

题名/责任者:
嵌入式RAM的优化设计及前后端关键技术研究/周清军著
出版发行项:
西安:西北工业大学出版社,2016
ISBN及定价:
978-7-5612-4946-8/CNY40.00
载体形态项:
159页:图;26cm
丛编项:
西安培华学院学术文库
个人责任者:
周清军
学科主题:
随机存取存贮器-最优设计-研究
中图法分类号:
TP333.8
书目附注:
有书目 (第158-159页)
提要文摘附注:
本书以实际项目为基础,结合作者对数字集成电路的理解,主要针对嵌入式RAM的前端优化设计及后端关键技术进行分析讲解。本书共九章,主要内容是嵌入式RAM的高成品率优化设计、低功耗优化设计及芯片工艺封装技术。文中优化方法应用于项目开发中,已成功流片,并通过了测试。
使用对象附注:
相关研究人员
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 定位
TP333.8/7733 2136838  - 9楼北计算机应用借阅室     可借 定位
TP333.8/7733 2136839  - 9楼北计算机应用借阅室     可借 定位
显示全部馆藏信息
借阅趋势

同名作者的其他著作(点击查看)
用户名:
密码:
验证码:
请输入下面显示的内容
  证件号 条码号 Email
 
姓名:
手机号:
送 书 地:
收藏到: 管理书架