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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:84

题名/责任者:
X射线荧光分析系统技术原理和应用/庹先国等著
出版发行项:
北京:中国原子能出版社,2017
ISBN及定价:
978-7-5022-8234-9/CNY56.00
载体形态项:
210页:图;26cm
个人责任者:
庹先国
学科主题:
X射线荧光光谱法
中图法分类号:
O657.34
书目附注:
有书目
提要文摘附注:
本书共十一章,包括了X射线基本知识、X射线荧光分析原理、X射线能谱分析方法、能量色散X射线荧光的定量分析、能量色散X射线荧光分析系统测试、工业分析领域中的应用等。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置 定位
O657.34/0026 2257794   10楼北化生医借阅室     可借 定位 10楼北化生医借阅室
O657.34/0026 2257795   10楼北化生医借阅室     可借 定位 10楼北化生医借阅室
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