| 暂存书架(0) | 登录

MARC状态:已编 文献类型:西文图书 浏览次数:63

题名/责任者:
Microstructural characterization of materials / David Brandon and Wayne Kaplan.
版本说明:
2nd ed.
出版发行项:
Chichester, England : John Wiley, c2008.
ISBN:
9780470027844 (cloth)
ISBN:
9780470027851 (paper)
载体形态项:
xiv, 536 p. : ill. (some col.) ; 25 cm.
丛编题名:
Quantitative software engineering series
个人责任者:
Brandon, D. G.
附加个人名称:
Kaplan, Wayne D.
论题主题:
Materials-Microscopy.
论题主题:
Microstructure.
中图法分类号:
TB303
科图法分类号:
71.22
书目附注:
Includes bibliographical references and index.
载体形态附注:
Also issued online.
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 定位
TB303/B819-2 6055868   12楼南外文图书阅览室     保留本 定位
显示全部馆藏信息
借阅趋势

同名作者的其他著作(点击查看)
用户名:
密码:
验证码:
请输入下面显示的内容
  证件号 条码号 Email
 
姓名:
手机号:
送 书 地:
收藏到: 管理书架