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题名/责任者:

单晶X射线衍射结构解析/张俊, 杜琳著

出版发行项:

合肥:中国科学技术大学出版社,2017

ISBN及定价:

978-7-312-04087-0/CNY40.00

载体形态项:

164页:图;24cm

并列正题名:

Structure analysis based on single crystal X-ray diffraction

丛编项:

博士论丛

个人责任者:

张俊 著

个人责任者:

杜琳 著

学科主题:

X射线分光晶体-X射线衍射-研究

中图法分类号:

O72

责任者附注:

张俊, 博士, 安徽建筑大学材料与化学工程学院副教授、硕士生导师。杜琳, 博士, 云南大学自然资源药物化学重点实验室副教授、硕士生导师。

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本书面向广大物质结构及晶体材料研究者, 阐述应用X射线衍射解析单晶结构完整过程, 对无序结构精修、cif文件填写及检测问题处理、物质结构理论、CCDC号申请、publcif软件编辑cif文件等进行详尽论述, 是关于晶体学从理论到应用不可多得的研究工具。书中将多个数据作为解析实例, 用简单易懂的语言配以大量图片将复杂的解析过程清晰表达出来, 让读者更加容易掌握。同已有多部理论论著相比, 本书更着眼解决研究者遇到的实际问题, 浅显易懂。对于有基础的研究者, 本书是一本非常好的实用工具, 能够更好地理解结构解析中的一些技巧。

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