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- 题名/责任者:
- SoC设计与测试:design and test/(美) Rochit Rajsuman著 于敦山, 盛世敏, 田泽译
- 出版发行项:
- 北京:北京航空航天大学出版社,2003
- ISBN及定价:
- 7-81077-308-9/CNY35.00
- 载体形态项:
- 210页:图, 肖像;26cm
- 并列正题名:
- System-on-a-Chip:design and test
- 个人责任者:
- 拉伊什乌曼, R. (Rajsuman, Rochit) 著
- 个人次要责任者:
- 于敦山 译
- 个人次要责任者:
- 盛世敏 译
- 个人次要责任者:
- 田泽 译
- 学科主题:
- 单片微型计算机-系统设计
- 中图法分类号:
- TP368.1
- 出版发行附注:
- 由美国Advantest America R & D Center, Inc.公司授权出版.
- 责任者附注:
- 责任者 (Rajsuman) 规范汉译姓: 拉伊什乌曼.
- 书目附注:
- 有书目
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