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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:70

题名/责任者:
数字集成电路参数的测量/(苏) Д. Ю. 埃杜卡斯等编著 张伦译
出版发行项:
北京:人民邮电出版社,1988
ISBN及定价:
7-115-03469-9/CNY2.75
载体形态项:
345页:图;21cm
统一题名:
Измерение Параметров Цифровых Цнтетральных Микрохсем
个人责任者:
埃杜卡斯 (Ейдукас, Д. Ю.) 编著
个人责任者:
张伦
学科主题:
数字集成电路-参数-测量
中图法分类号:
TN431.2
版本附注:
根据М:радио и связь1982年英文版译出.
相关题名附注:
俄文题名取自书中
提要文摘附注:
介绍集成电路的静态参数和动态参数及其测量方法、功能检验、静态参数检测设备、动态参数检测设备、功能检验设备、检验系统的程序保证及检测集成电路的生产体系等。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 定位
TN431.2/9434 0354627   密集书库一     可借 定位
TN431.2/9434 0107552   理科综合阅览室     保留本 定位
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