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题名/责任者:

晶体管非线性模型参数提取技术/(德) 马蒂亚斯·鲁道夫, 克里斯蒂安·法格, 戴维·E. 鲁特著 王颖 ... [等] 译

出版发行项:

北京:国防工业出版社,2020

ISBN及定价:

978-7-118-12067-7/CNY88.00

载体形态项:

326页:图;24cm

并列正题名:

Nonlinear transistor model parameter extraction techniques

个人责任者:

鲁道夫 (Rudolph, Matthias) 著

个人责任者:

法格 (Fager, Christian) 著

个人责任者:

罗特 (Root, David E.) 著

个人次要责任者:

王颖 译

学科主题:

晶体管-非线性-线性模型-参数分析-研究

中图法分类号:

TN32

出版发行附注:

由Cambridge University Press授权出版

责任者附注:

责任者Root规范汉译姓: 罗特

书目附注:

有书目 (第325页)

提要文摘附注:

本书系统地讨论了晶体管非线性模型构造、参数提取、测量及分析方法以及晶体管封装模型、参数提取不确定度、噪声参数、电路设计等一系列关键问题, 是一部细致讲解晶体管非线性模型参数提取技巧和方法的书籍。

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