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- 题名/责任者:
- 材料X射线分析技术/朱和国[等]编著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2023.09
- ISBN及定价:
- 978-7-03-075930-6/CNY79.00
- 载体形态项:
- 292页;26cm
- 个人责任者:
- 朱和国
- 学科主题:
- 晶体
- 中图法分类号:
- O721
- 提要文摘附注:
- 本书介绍晶体学基础与X射线在材料结构、形貌和成分方面的分析技术。其中，结构分析技术包括X射线的物理基础、衍射原理、物相分析、织构分析、小角散射与掠入射衍射分析、位错分析、层错分析、非晶分析、单晶体衍射与取向分析、内应力分析、点阵常数的测量与热处理分析等；形貌分析技术即三维X射线显微成像分析；成分分析技术包括特征X射线能谱、X射线光电子能谱及X射线荧光光谱等。
- 使用对象附注:
- 本书适用于高等学校材料科学与工程专业本科生
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