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- 题名/责任者:
- FEKO电磁仿真软件在天线分析与设计中的应用/(美)阿提夫Z.埃尔舍贝利，(美)帕亚姆·纳耶里，(美)C.J.雷迪著 索莹，李伟编译
- 出版发行项:
- 哈尔滨:哈尔滨工业大学出版社,2016.12
- ISBN及定价:
- 978-7-5603-6035-5/CNY58.00
- 载体形态项:
- ;26cm
- 个人责任者:
- (美) 阿提夫 Z.埃尔舍贝利 著
- 个人责任者:
- (美) 帕亚姆·纳耶里 著
- 个人责任者:
- (美) C.J.雷迪 著
- 个人次要责任者:
- 索莹 编译
- 个人次要责任者:
- 李伟 编译
- 中图法分类号:
- O441.4-39
- 提要文摘附注:
- 本书主要介绍Ⅱ-Ⅶ族纳米粒子的发展历史，表征方法和几种基于超快激光系统的测试方法。本书以Ⅱ-Ⅶ族半导体纳米粒子为研究对象，使用超快光学技术测量Ⅱ-Ⅶ族纳米粒子的纳秒荧光动力学，三阶光学非线性和瞬态吸收动力学等超快光学特性。
- 使用对象附注:
- 物理学研究者
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