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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:72

题名/责任者:
半导体化合物光电器件检测/许并社主编
出版发行项:
北京:化学工业出版社,2013
ISBN及定价:
978-7-122-18947-9/CNY49.00
载体形态项:
258页:图;26cm
丛编项:
半导体化合物研究与应用丛书
丛编项:
普通高等教育“十二五”规划教材
个人责任者:
许并社 主编
学科主题:
化合物半导体-半导体光电器件-检测-高等教育-教材
中图法分类号:
TN360.7
书目附注:
有书目
提要文摘附注:
本书内容包括: 透射电子显微镜、扫描电子显微镜、原子力显微镜、薄膜X射线衍射、光致发光和电至发光、霍尔效应等。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 定位
TN360.7/3883 1981087  - 9楼南电信软件工程借阅室     可借 定位
TN360.7/3883 1981086  - 理科综合阅览室     保留本 定位
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