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- 题名/责任者:
- 系统芯片(SoC)验证方法与技术/(美) Prakash Rashinkar, Peter Paterson, Leena Singh著 孙海平, 丁健译
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2005
- ISBN及定价:
- 7-121-00589-1/CNY29.00
- 载体形态项:
- 263页:图;26cm
- 个人责任者:
- 拉申卡尔, P. (Rashinkar, Prakash) 著
- 个人责任者:
- 佩特森, P. (Paterson, Peter) 著
- 个人责任者:
- 辛格, L. (Singh, Leena) 著
- 个人次要责任者:
- 孙海平 译
- 个人次要责任者:
- 丁健 译
- 学科主题:
- 芯片-集成电路-电路设计
- 中图法分类号:
- TN430.2
- 版本附注:
- 据美国Kluwer Academic Publishers 2001年英文版译出
- 出版发行附注:
- 由美国Kluwer Academic Publishers授权电子工业出版社出版
- 责任者附注:
- 责任者 (Rashinkar) 规范汉译姓: 拉申卡尔; 责任者 (Paterson) 规范汉译姓: 佩特森; 责任者 (Singh) 规范汉译姓: 辛格.
- 书目附注:
- 有书目
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