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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:127

题名/责任者:
现代VLSI器件基础/(美) 陶元, 甯德雄著 黄如译
出版发行项:
北京:电子工业出版社,2020
ISBN及定价:
978-7-121-38073-0/CNY128.00
载体形态项:
XXIII, 484页:图;26cm
统一题名:
Fundamentals of modern VLSI devices
丛编项:
集成电路系列丛书
个人责任者:
陶元, (Taur, Yuan) 1946- 著
个人责任者:
甯德雄, (Ning, Tak H.) 1943- 著
个人次要责任者:
黄如
学科主题:
VLSI芯片-电路设计
中图法分类号:
TN470.2
版本附注:
据原书第2版译出
出版发行附注:
由Yuan Taur,Tak H. Ning授予电子工业出版社
书目附注:
有书目 (第462-484页)
提要文摘附注:
本书旨在深度剖析影响现代VLSI器件性能的主要因素。本书首先分析了VLSI器件的基本器件物理,这对于单个器件的参数设计是非常有帮助的;然后本书从基础电路层面分析了器件参数对现代小尺寸VLSI器件性能的影响。本书用大量篇幅对现代CMOS器件参数之间的相互影响和器件参数的折中设计进行了深度分析和讨论。
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置 定位
TN470.2/7710 2345820   9楼南电信软件工程借阅室     可借 定位 9楼南电信软件工程借阅室
TN470.2/7710 2345821   9楼南电信软件工程借阅室     可借 定位 9楼南电信软件工程借阅室
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