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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:68

题名/责任者:
数字集成电路:电路、系统与设计/(美) Jan M. Rabaey, Anantha Chandrakasan, Borivoje Nikolic著 周润德等译
出版发行项:
北京:电子工业出版社,2017
ISBN及定价:
978-7-121-30505-4/CNY99.00
载体形态项:
16, 505页:图;26cm
统一题名:
Digital integrated circuits : a design perspective
其它题名:
电路、系统与设计
丛编项:
国外电子与通信教材系列
个人责任者:
拉贝艾 (Rabaey, Jan M.)
个人责任者:
钱德拉卡山 (Chandrakasan, Anantha)
个人责任者:
尼科利茨 (Nikolic, Borivoje)
个人次要责任者:
周润德, 1945- 译
学科主题:
数字集成电路-电路设计-高等学校-教材
中图法分类号:
TN431.2
版本附注:
译自原书第2版
出版发行附注:
本书中文简体字版专有出版权由Pearson Education授予电子工业出版社
责任者附注:
责任者Rabaey规范汉译姓: 拉贝艾; 责任者Chandrakasan规范汉译姓: 钱德拉卡山; 责任者Nikolic规范汉译姓: 尼科利茨.
责任者附注:
周润德, 1945年生于上海, 1968年毕业于清华大学。
书目附注:
有书目
提要文摘附注:
本书由美国加州大学伯克利分校Jan M. Rabaey教授等人所著。全书共12章, 分为三部分: 基本单元、电路设计和系统设计。本书在对MOS器件和连线的特性做了简要的介绍之后, 深入分析了数字设计的核心--反相器, 并逐步将这些知识延伸到组合逻辑电路、时序逻辑电路、控制器、运算电路以及存储器这些复杂数字电路与系统的设计中。为了反映数字集成电路设计进入深亚微米领域后正在发生的深刻变化, 本书以CMOS工艺的实际电路为例, 讨论了深亚微米器件效应、电路最优化、互连线建模和优化、信号完整性、时序分析、时钟分配、高性能和低功耗设计、设计验证、芯片测试和可测性设计等主题, 着重探讨了深亚微米数字集成电路设计所面临的挑战和启示。
使用对象附注:
本书可作为高等院校电子科学与技术, 电子与信息工程、计算机科学与技术、自动化等专业高年级本科生和研究生有关数字集成设计方面课程的教材, 也可作为这一领域人员的参考书
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置 定位
TN431.2/7048/ 2 2420346   教材阅览室L106     保留本 定位 教材阅览室L106
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