| 暂存书架(0) | 登录

MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:75

题名/责任者:
电子元器件失效分析及应用/主编夏泓
出版发行项:
北京:国防工业出版社,1998
ISBN及定价:
7-118-01811-2/CNY8.00
载体形态项:
155页,[2] 叶图版:图, 摹真;21cm
丛编项:
可靠性·维修性·保障性丛书;8
个人责任者:
夏泓 主编
学科主题:
电子元件-失效分析
学科主题:
电子器件-失效分析
中图法分类号:
TN60
书目附注:
有书目 (第154-155页)
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置 定位
TN60/1032 0730530   密集书库三 密三2B8     可借 定位 密集书库三
TN60/1032 0730529   密集书库一     可借 定位
TN60/1032 0730531   理科综合阅览室     保留本 定位
显示全部馆藏信息
借阅趋势

同名作者的其他著作(点击查看)
用户名:
密码:
验证码:
请输入下面显示的内容
  证件号 条码号 Email
 
姓名:
手机号:
送 书 地:
收藏到: 管理书架