MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：70
- 题名/责任者:
- 超大规模集成电路测试:数字、存储器和混合信号系统/(美) Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal著 蒋安平, 冯建华, 王新安译
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2005
- ISBN及定价:
- 7-121-01490-4/CNY58.00
- 载体形态项:
- 16, 511页:图;26cm
- 并列正题名:
- Essentials of electronic testing:for digital, memory & mixed-signal VLSI circuits
- 其它题名:
- 数字、存储器和混合信号系统
- 丛编项:
- 国外电子与通信教材系列
- 个人责任者:
- 布什内尔, M. L. (Bushnell, Michael L.) 著
- 个人责任者:
- 阿格雷瓦尔, V. D. (Agrawal, Vishwani D.) 著
- 个人次要责任者:
- 蒋安平 译
- 个人次要责任者:
- 冯建华 译
- 个人次要责任者:
- 王新安 译
- 学科主题:
- 超大规模集成电路-测试-高等学校-教材
- 中图法分类号:
- TN470.7
- 出版发行附注:
- 本书中文简体专有翻译版由Kluwer Academic Publishers授权电子工业出版社出版
- 责任者附注:
- 责任者 (Bushnell) 规范汉译姓: 布什内尔; 责任者 (Agrawal) 规范汉译姓: 阿格雷瓦尔.
- 书目附注:
- 有书目 (第474-511页)
- 提要文摘附注:
- 本书本三个部分，第一部分是测试基础，介绍了测试的基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分是测试方法，详细论述了组合和时序电路的测试生成、存储器测试、模拟与混合信号测试等。第三部分是可测试性设计，包括扫描设计、BIST、模拟测试等。
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