MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：86
- 题名/责任者:
- 材料分析测试技术:材料X射线衍射与电子显微分析/周玉, 武高辉编著
- 版本说明:
- 第2版
- 出版发行项:
- 哈尔滨:哈尔滨工业大学出版社,2007
- ISBN及定价:
- 978-7-5603-1338-2/CNY26.80
- 载体形态项:
- 311页:图;26cm
- 并列正题名:
- Analysis methods in materials science:X-ray diffraction and electron microscopy in materials science
- 其它题名:
- 材料X射线衍射与电子显微分析
- 个人责任者:
- 周玉 编著
- 个人责任者:
- 武高辉 编著
- 学科主题:
- 金属材料-X射线衍射分析-高等学校-教材
- 学科主题:
- 金属材料-电子显微镜分析-高等学校-教材
- 中图法分类号:
- TG115.23
- 中图法分类号:
- TG115.21
- 相关题名附注:
- 英文并列题名取自封面
- 书目附注:
- 有书目 (第311页)
- 提要文摘附注:
- 本书介绍了用X射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。内容包括：X射线衍射方向与强度、多晶体分析方法及X射线衍射仪、物相分析等，书后还附有实验指导。
- 使用对象附注:
- 高等学校经典畅销教材
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