| 暂存书架(0) | 登录

MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:75

题名/责任者:
电子元器件可靠性技术教程/付桂翠 ... [等] 编著
出版发行项:
北京:北京航空航天大学出版社,2010
ISBN及定价:
978-7-5124-0136-5/CNY35.00
载体形态项:
273页:图;23cm
丛编项:
普通高校“十一五”规划教材
个人责任者:
付桂翠 编著
个人责任者:
陈颖 编著
个人责任者:
张素娟 编著
学科主题:
电子元件-可靠性-高等学校-教材
中图法分类号:
TN6
题名责任附注:
题名页题: 付桂翠, 陈颖, 张素娟, 高成等.
书目附注:
有书目 (第271-273页)
提要文摘附注:
本书是高等工科院校“质量与可靠性”专业本科生教材,主要围绕元器件可靠性技术这一主题,针对元器件的固有可靠性和使用可靠性的保证技术进行了分类介绍。在固有可靠性保证中主要介绍了元器件的制造工艺、封装技术、失效机理、可靠性试验技术等。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置 定位
TN6/2441 1738514   9楼南电信软件工程借阅室     可借 定位 借还中心(服务台)
TN6/2441 1738515   9楼南电信软件工程借阅室     可借 定位
TN6/2441 1738513   理科综合阅览室     保留本 定位
显示全部馆藏信息
借阅趋势

同名作者的其他著作(点击查看)
用户名:
密码:
验证码:
请输入下面显示的内容
  证件号 条码号 Email
 
姓名:
手机号:
送 书 地:
收藏到: 管理书架