MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:75
- 题名/责任者:
- 电子元器件可靠性技术教程/付桂翠 ... [等] 编著
- 出版发行项:
- 北京:北京航空航天大学出版社,2010
- ISBN及定价:
- 978-7-5124-0136-5/CNY35.00
- 载体形态项:
- 273页:图;23cm
- 丛编项:
- 普通高校“十一五”规划教材
- 个人责任者:
- 付桂翠 编著
- 个人责任者:
- 陈颖 编著
- 个人责任者:
- 张素娟 编著
- 学科主题:
- 电子元件-可靠性-高等学校-教材
- 中图法分类号:
- TN6
- 题名责任附注:
- 题名页题: 付桂翠, 陈颖, 张素娟, 高成等.
- 书目附注:
- 有书目 (第271-273页)
- 提要文摘附注:
- 本书是高等工科院校“质量与可靠性”专业本科生教材,主要围绕元器件可靠性技术这一主题,针对元器件的固有可靠性和使用可靠性的保证技术进行了分类介绍。在固有可靠性保证中主要介绍了元器件的制造工艺、封装技术、失效机理、可靠性试验技术等。
全部MARC细节信息>>