MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：76
- 题名/责任者:
- 程序设计缺陷分析与实践/尹浩, 于秀山编著
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2011
- ISBN及定价:
- 978-7-121-12969-8/CNY36.00
- 载体形态项:
- 268页:图;24cm
- 个人责任者:
- 尹浩, 1959- 编著
- 个人责任者:
- 于秀山 编著
- 学科主题:
- 程序设计-缺陷-研究
- 中图法分类号:
- TP311.11
- 书目附注:
- 有书目 (第267-268页)
- 提要文摘附注:
- 代码缺陷源自程序设计，本书结合作者多年软件测试经验，重点归纳总结了C/C++和Java语言在程序设计方面存在的鲜为人知的各种缺陷，以期为软件设计人员和测试人员提供有益借鉴。全书共5章2个附录，分别介绍了程序设计缺陷静态分析方法、C/C++语言程序设计缺陷分析、Java语言程序设计缺陷分析、软件质量静态度量以及静态测试工具使用实践。重点介绍了C/C++语言程序在编码风格、内存管理、缓冲区使用、指针以及安全等方面存在的典型缺陷，并结合实例对每种缺陷进行了分析，同时给出了缺陷修改方法。
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