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题名/责任者:

最优可靠性设计:基础与应用/(美) Way Kuo ... [等] 著 郭进利, 阎春宁译

出版发行项:

北京:科学出版社,2011

ISBN及定价:

978-7-03-030273-1/CNY78.00

载体形态项:

337页:图;24cm

统一题名:

Optimal reliability design : fundamentals and applications

丛编项:

现代数学译丛;13

个人责任者:

郭位 (Kuo, Way), 1951- 著

个人责任者:

普拉萨德 (Prasad, V. Rajendra) 著

个人责任者:

蒂尔曼 (Tillman, Frank A.) 著

个人次要责任者:

郭进利 译

个人次要责任者:

阎春宁 译

学科主题:

系统可靠性-最优设计

中图法分类号:

TB114.3

一般附注:

本书获得国家自然科学基金项目资助 上海市重点学科建设项目资助

题名责任附注:

题名页题: (美) Way Kuo, V. Rajendra Prasad, Frank A. Tillman, Ching-Lai Hwang.

相关题名附注:

英文题名取自版权页

责任者附注:

责任者汉译名为: 郭位 ; 编目人员自译责任者 (Prasad) 汉译姓: 普拉萨德 ; 责任者 (Tillman) 规范汉译姓: 蒂尔曼.

书目附注:

有书目 (第301-318页) 和索引

提要文摘附注:

本书提供了系统可靠性和可靠性最优化的详细介绍，从元件可靠度提高和冗余排列的角度，论述了最大化系统可靠度的最新技术，展示了几个研究案例，并说明了最优化技术是如何应用于实际问题的。也特别注意寻找可靠性和费用之间平衡的最优化方法。本书开始回顾了关键的背景材料，讨论了许多最优化模型，接着涉及了最优化工具，如启发式方法、离散最优化、非线性规划、混合整数规划、最优指派和智能化启发式算法，也描述了这些工具的计算机实现．案例研究涵盖了工程应用的不同领域，包括微电子组装、软件开发及核反应堆维护。

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