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题名/责任者:

电子元器件失效分析技术/工业和信息化部电子第五研究所组编 恩云飞, 来萍, 李少平编著

出版发行项:

北京:电子工业出版社,2015

ISBN及定价:

978-7-121-27230-1/CNY98.00

载体形态项:

xix, 453页:图;24cm

丛编项:

可靠性技术丛书

个人责任者:

恩云飞 编著

个人责任者:

来萍 编著

个人责任者:

李少平 编著

团体次要责任者:

工业和信息化部电子第五研究所 组编

学科主题:

电子元件-失效分析

学科主题:

电子器件-失效分析

中图法分类号:

TN601

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本书是工程应用类书,主要介绍电子元器件失效分析技术。从失效分析概论、失效分析技术、失效分析方法和程序以及失效预防几个方面的内容,使读者全面系统地掌握失效分析方面的基础理论、基本概念,技术和设备、方法和流程,指导开展相关的失效分析工作,并了解失效预防的一些基本方法和手段。

使用对象附注:

本书适合电子企业的质量和可靠性工程师，或者对失效分析技术有兴趣的工程技术人员参考阅读

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