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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:111

题名/责任者:
物联网系统动态性能半物理验证技术/俞晓磊, 汪东华, 赵志敏著
出版发行项:
北京:科学出版社,2017
ISBN及定价:
978-7-03-054056-0/CNY89.00
载体形态项:
212页:图;24cm
并列正题名:
Semi-physical verification technology for dynamic performance of internet of things system
个人责任者:
俞晓磊
个人责任者:
汪东华
个人责任者:
赵志敏
学科主题:
互联网络-应用-无线电信号-射频-信号识别-研究
学科主题:
智能技术-应用-无线电信号-射频-信号识别-研究
中图法分类号:
TN911.23
相关题名附注:
英文并列题名取自封面
书目附注:
有书目 (第181-190页)
提要文摘附注:
本书共分七章, 分别论述了民事领域和民用领域中基于电传感的半物理验证技术研究进展、以光电传感技术为基础搭建的RFID防碰撞半物理验证平台、温度对RFID动态性能影响的热力学模型、基于Fisher矩阵、神经网络和图像处理技术的RFID多标签几何分布最优化分析方法及半物理验证系统等。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置 定位
TN911.23/8061/ 1 2193417   9楼南电信软件工程借阅室     可借 定位 9楼南电信软件工程借阅室
TN911.23/8061/ 1 2193418   9楼南电信软件工程借阅室     可借 定位 9楼南电信软件工程借阅室
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