MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:110
- 题名/责任者:
- 模拟CMOS集成电路设计/(美) 毕查德·拉扎维著 陈贵灿 ... [等] 译
- 版本说明:
- 第2版
- 出版发行项:
- 西安:西安交通大学出版社,2018
- ISBN及定价:
- 978-7-5693-0992-8/CNY138.00
- 载体形态项:
- xiv, 10, 724页:图;26cm
- 丛编项:
- 国外名校最新教材精选
- 个人责任者:
- 拉扎维 (Razavi, Behzad) 著
- 个人次要责任者:
- 陈贵灿 译
- 个人次要责任者:
- 程军 译
- 个人次要责任者:
- 张瑞智 译
- 个人次要责任者:
- 张鸿 译
- 学科主题:
- 模拟集成电路-电路设计
- 学科主题:
- CMOS电路-电路设计
- 中图法分类号:
- TN431.102
- 中图法分类号:
- TN432.02
- 题名责任附注:
- 题名页题: 陈贵灿, 程军, 张瑞智, 张鸿译.
- 版本附注:
- 译自原书第2版
- 出版发行附注:
- 本授权中文简体字翻译版由麦格希 (亚洲) 教育出版公司和西安交通大学出版社合作出版
- 书目附注:
- 有书目和索引
- 提要文摘附注:
- 本书是模拟CMOS集成电路设计方面的经典教材, 介绍模拟CMOS集成电路的分析与设计, 着重讲解该技术的最新进展和设计实例, 从MOSFET器件的基本物理特性开始, 逐章分析CMOS放大单元电路、差分放大器、频率响应、噪声、反馈放大器与稳定性、运算放大器、电压基准源与电流基源、离散时间系统、差分电路及反馈系统中的非线性、振荡器和锁相环等基础模拟电路的分析与设计。本书还介绍了集成电路的基本制造工艺、版图和封装设计的基本原则。
- 使用对象附注:
- 本书可作为CMOS模拟集成电路设计或相关领域的研究人员和工程技术人员的参考书
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