| 暂存书架(0) | 登录

MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:61

题名/责任者:
SoC设计和测试技术:理论与实践/刘文松 ... [等] 编著
出版发行项:
南京:东南大学出版社,2016
ISBN及定价:
978-7-5641-6780-6/CNY39.00
载体形态项:
185页:图;24cm
其它题名:
理论与实践
个人责任者:
刘文松 编著
学科主题:
集成电路-芯片-设计
学科主题:
集成电路-芯片-测试
中图法分类号:
TN4
书目附注:
有书目
提要文摘附注:
本书系统讲解了SoC设计与测试技术所涉及的基础理论和工程实践。基础理论部分, 内容涵盖了硬件描述语言、可编程逻辑器件、逻辑综合、自动布局布线等内容。工程实践部分, 基于ARM平台讲解SoC系统设计和测试方法。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 定位
TN4/0204 2150632  - 9楼南电信软件工程借阅室     可借 定位
TN4/0204 2150633  - 9楼南电信软件工程借阅室     可借 定位
显示全部馆藏信息
借阅趋势

同名作者的其他著作(点击查看)
用户名:
密码:
验证码:
请输入下面显示的内容
  证件号 条码号 Email
 
姓名:
手机号:
送 书 地:
收藏到: 管理书架