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题名/责任者:

集成电路系统设计、验证与测试/(美) Louis Scheffer, Luciano Lavagno, Grant Martin著 陈力颖, 王猛译

出版发行项:

北京:科学出版社,2008

ISBN及定价:

978-7-03-021490-4/CNY62.00

载体形态项:

xiv, 475页:图;26cm

统一题名:

EDA Fro IC system design, verification and testing

其它题名:

集成电路系统设计验证与测试

丛编项:

集成电路EDA技术

个人责任者:

谢弗 (Scheffer, Louis) 著

个人责任者:

拉瓦尼奥 (Lavagno, Luciano) 著

个人责任者:

马丁 (Martin, Grant) 著

个人次要责任者:

陈力颖 译

个人次要责任者:

王猛 译

学科主题:

集成电路-电路设计

中图法分类号:

TN402

相关题名附注:

英文题名取自书中

责任者附注:

责任者 (Scheffer) 规范汉译姓: 谢弗; 责任者 (Lavagno) 规范汉译姓: 拉瓦尼奥; 责任者 (Martin) 规范汉译姓: 马丁.

书目附注:

有书目

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