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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:88

题名/责任者:
电子元器件可靠性技术基础/付桂翠 ... [等] 编著
版本说明:
第2版
出版发行项:
北京:北京航空航天大学出版社,2022
ISBN及定价:
978-7-5124-3714-2/CNY55.00
载体形态项:
268页:图;26cm
丛编项:
飞行器质量与可靠性专业系列教材
个人责任者:
付桂翠 编著
个人责任者:
万博 编著
个人责任者:
张素娟 编著
个人责任者:
高成 编著
学科主题:
电子元件-可靠性-高等学校
中图法分类号:
TN6
题名责任附注:
题名页题: 付桂翠, 万博, 张素娟, 高成编著.
书目附注:
有书目 (第266-268页)
提要文摘附注:
本书在原版教材的基础上,增加了元器件可靠性概述,可靠性试验,以及基于失效物理的电子元器件可靠性评价等章节,介绍了电子元器件可靠性领域的新技术,新方法,具有较强的理论性和工程实用性。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置 定位
TN6/2441/ 1-2 2399361   9楼南电信软件工程借阅室     可借 定位 9楼南电信软件工程借阅室
TN6/2441/ 1-2 2399362   9楼南电信软件工程借阅室     可借 定位 9楼南电信软件工程借阅室
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