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题名/责任者:

数字系统测试与可测试设计/(美) Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman著 李华伟, 鲁巍译

出版发行项:

北京:机械工业出版社,2006

ISBN及定价:

7-111-19237-0/CNY56.00

载体形态项:

449页:图, 肖像;26cm

统一题名:

Digital systems testing and testable design

丛编项:

电子工程丛书

个人责任者:

阿布拉莫维奇 (Abramovici, Miron) 著

个人责任者:

布鲁尔 (Breuer, Melvin A.) 著

个人责任者:

弗里德曼 (Friedman, Arthur D.) 著

个人次要责任者:

李华伟 译

个人次要责任者:

鲁巍 译

学科主题:

数字系统-测试技术

中图法分类号:

TP271

版本附注:

据AT&T 1990年英文版译出

出版发行附注:

由约翰-威利父子公司授权机械工业出版社出版

责任者附注:

责任者 (Abramovici) 规范汉译姓: 阿布拉莫维奇.

书目附注:

有书目和索引

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