MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：108
- 题名/责任者:
- 数字系统测试与可测试设计/(美) Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman著 李华伟, 鲁巍译
- 出版发行项:
- 北京:机械工业出版社,2006
- ISBN及定价:
- 7-111-19237-0/CNY56.00
- 载体形态项:
- 449页:图, 肖像;26cm
- 丛编项:
- 电子工程丛书
- 个人责任者:
- 阿布拉莫维奇 (Abramovici, Miron) 著
- 个人责任者:
- 布鲁尔 (Breuer, Melvin A.) 著
- 个人责任者:
- 弗里德曼 (Friedman, Arthur D.) 著
- 个人次要责任者:
- 李华伟 译
- 个人次要责任者:
- 鲁巍 译
- 学科主题:
- 数字系统-测试技术
- 中图法分类号:
- TP271
- 版本附注:
- 据AT&T 1990年英文版译出
- 出版发行附注:
- 由约翰-威利父子公司授权机械工业出版社出版
- 责任者附注:
- 责任者 (Abramovici) 规范汉译姓: 阿布拉莫维奇.
- 书目附注:
- 有书目和索引
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