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题名/责任者:

系统芯片(SoC)验证方法与技术/(美) Prakash Rashinkar, Peter Paterson, Leena Singh著 孙海平, 丁健译

出版发行项:

北京:电子工业出版社,2005

ISBN及定价:

7-121-00589-1/CNY29.00

载体形态项:

263页:图;26cm

并列正题名:

System-on-a-chip verification methodology and techniques

个人责任者:

拉申卡尔, P. (Rashinkar, Prakash) 著

个人责任者:

佩特森, P. (Paterson, Peter) 著

个人责任者:

辛格, L. (Singh, Leena) 著

个人次要责任者:

孙海平 译

个人次要责任者:

丁健 译

学科主题:

芯片-集成电路-电路设计

中图法分类号:

TN430.2

版本附注:

据美国Kluwer Academic Publishers 2001年英文版译出

出版发行附注:

由美国Kluwer Academic Publishers授权电子工业出版社出版

责任者附注:

责任者 (Rashinkar) 规范汉译姓: 拉申卡尔; 责任者 (Paterson) 规范汉译姓: 佩特森; 责任者 (Singh) 规范汉译姓: 辛格.

书目附注:

有书目

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