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MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:71

题名/责任者:
光电子器件微波封装和测试/祝宁华著
出版发行项:
北京:科学出版社,2007
ISBN及定价:
978-7-03-019198-4/CNY48.00
载体形态项:
xiv, 292页:图, 肖像;24cm
并列正题名:
Microwave design and characterization of optoelectronics devices and packaging
丛编项:
半导体科学与技术丛书
个人责任者:
祝宁华
学科主题:
光电器件-半导体器件-封装工艺
学科主题:
光电器件-半导体器件-测试技术
中图法分类号:
TN36
一般附注:
中国科学院科学出版基金资助出版, “十一五”国家重点图书出版规划项目.
书目附注:
有书目和索引
提要文摘附注:
全书共十一章,内空包括半导体激光器、光调制器和光探测器、三种典型高速光电子器件的微波封装设计、网络分析仪扫频测试法、小信号功率测试法等。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 定位
TN36/3632 1464283   9楼南电信软件工程借阅室     可借 定位
TN36/3632 1464284   9楼南电信软件工程借阅室     可借 定位
TN36/3632 1464285   理科综合阅览室     保留本 定位
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