-
中文图书1.硅通孔三维集成电路测试与可测性设计 TN407/8038
馆藏复本:2
可借复本:2 俞洋 ... [等] 著
哈尔滨工业大学出版社 2021
(0) 馆藏 -
中文图书2.在技术与制度之间:大数据时代的权力监督:power supervision in the big data era U491-39/4444
馆藏复本:3
可借复本:3 黄其松, 俞洋, 李昂等著
经济管理出版社 2020
(0) 馆藏