-
中文图书1.微电子器件与电路可靠性 TN4/1230
馆藏复本:3
可借复本:2 张安康编
电子工业出版社 1994
(0) 馆藏 -
中文图书2.半导体器件可靠性与失效分析 TN303/2140
馆藏复本:5
可借复本:4 卢其庆, 张安康编
江苏科学技术出版社 1981
(0) 馆藏
馆藏复本:3
可借复本:2 张安康编
电子工业出版社 1994
(0) 馆藏
馆藏复本:5
可借复本:4 卢其庆, 张安康编
江苏科学技术出版社 1981
(0) 馆藏