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检索到 7 条 责任者=恩云飞 的结果    

 


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  1. 中文图书1.电子微组装可靠性设计:基础篇 TN605/2191

    馆藏复本：2
    可借复本：2     何小琦, 恩云飞, 宋芳芳编著
    电子工业出版社 2020
    (0) 馆藏

  2. 中文图书2.电子元器件失效分析技术 TN601/6011

    馆藏复本：2
    可借复本：2     工业和信息化部电子第五研究所组编
    电子工业出版社 2015
    (0) 馆藏

  3. 中文图书3.半导体集成电路的可靠性及评价方法 TN43/0060

    馆藏复本：2
    可借复本：2     工业和信息化部电子第五研究所组编
    电子工业出版社 2015
    (0) 馆藏

  4. 中文图书4.可靠性物理 TN6/6011

    馆藏复本：2
    可借复本：2     工业和信息化部电子第五研究所组编
    电子工业出版社 2015
    (0) 馆藏

  5. 中文图书5.ESD揭秘:静电防护原理和典型应用:from semiconductor manufacturing to product use TN430.2/5090/ 1

    馆藏复本：2
    可借复本：2     (美) Steven H. Voldman著
    机械工业出版社 2014
    (0) 馆藏

  6. 中文图书6.MEMS可靠性 TM38/0007

    馆藏复本：2
    可借复本：1     (美) Allyson L. Hartzell, Mark G. da Silva, (瑞士) Herbert R. Shea著
    电子工业出版社 2012
    (0) 馆藏

  7. 中文图书7.电子元器件失效分析与典型案例 TN601/1294

    馆藏复本：2
    可借复本：1     孔学东, 恩云飞主编
    国防工业出版社 2006
    (0) 馆藏

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