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检索到 3 条 责任者=杨智 馆藏地=9楼南电信软件工程借阅室 的结果    

 


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  1. 中文图书1.硅通孔三维集成电路测试与可测性设计 TN407/8038

    馆藏复本：2
    可借复本：2     俞洋 ... [等] 著
    哈尔滨工业大学出版社 2021
    (0) 馆藏

  2. 中文图书2.Photoshop CC设计之道:APP视觉创意与设计 TN929.53/1060/ 1

    馆藏复本：2
    可借复本：2     严晨, 杨智坤著
    机械工业出版社 2015
    (0) 馆藏

  3. 中文图书3.涂层失效分析 TB43/5436

    馆藏复本：2
    可借复本：1     (美) 德怀特 G. 韦尔登著
    化学工业出版社 2011
    (0) 馆藏

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