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检索到 4 条 责任者=Mayer, James W., 的结果    

 


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  1. 西文图书1.Ion beam analysis : fundamentals and applications / TB302.1/N269

    馆藏复本：1
    可借复本：0     Michael Nastasi, James W. Mayer, Yongqiang Wang.
     
    (0) 馆藏

  2. 西文图书2.Fundamentals of nanoscale film analysis = 纳米薄膜分析基础 / TB383/A389

    馆藏复本：3
    可借复本：2     T.L. Alford, L.C. Feldman, J.W. Mayer.
    科学出版社, 2008.
    (0) 馆藏

  3. 西文图书3.Ion beam handbook for material analysis / TB302.5-62/I64

    馆藏复本：1
    可借复本：0     coordinating editors, by J. W. Mayer, E. Rimini ; chapter editors, B. R. Appleton ... [et al].
    Academic Press, 1977.
    (0) 馆藏

  4. 西文图书4.Laser annealing of semiconductors / TN248.4/P739

    馆藏复本：1
    可借复本：0     edited by J.M. Poate, James W. Mayer.
    Academic Press, 1982.
    (0) 馆藏

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