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西文图书1.Characterization of crystal growth defects by X-ray methods : [proceedings of NATO Advanced Study... O72-53/N864
馆藏复本：1
可借复本：0 edited by Brian K. Tanner and D. Keith Bowen.
Plenum Press, c1980.
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西文图书2.Physique des défauts = Physics of defects / O474/B186
馆藏复本：1
可借复本：0 édité par Roger Balian, Maurice Kléman, Jean-Paul Poirier.
North-Holland Pub. Co. ; c1981.
(0) 馆藏
