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检索到 5 条 分类号=TN304.07 的结果    

 


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  1. 中文图书1.半导体测试技术 TN307/1924

    馆藏复本：3
    可借复本：2     孙以材编著
    冶金工业出版社 1984
    (0) 馆藏

  2. 中文图书2.半导体的检测与分析 TN307/5062

    馆藏复本：5
    可借复本：4     中国科学院半导体研究所理化分析中心研究室著
    科学出版社 1984
    (0) 馆藏

  3. 中文图书3.半导体材料电磁参数的测量 TM934/5400

    馆藏复本：3
    可借复本：2     (美) 威特著
    计量出版社 1986
    (0) 馆藏

  4. 中文图书4.半导体材料测试与分析 TN304.07/4722

    馆藏复本：2
    可借复本：1     杨德仁等著
    科学出版社 2010
    (0) 馆藏

  5. 中文图书5.半导体的检测与分析.第2版 TN307/5062/ -2

    馆藏复本：3
    可借复本：2     许振嘉主编
    科学出版社 2007
    (0) 馆藏

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