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检索到 3 条 分类号=TN306 的结果    

 


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  1. 中文图书1.半导体器件可靠性 TN303/9072

    馆藏复本：5
    可借复本：4     《半导体器件可靠性》编写组编
    国防工业出版社 1978
    (0) 馆藏

  2. 中文图书2.半导体器件可靠性物理 TN303/0093

    馆藏复本：4
    可借复本：3     高光渤, 李学信编著
    科学出版社 1987
    (0) 馆藏

  3. 中文图书3.半导体器件可靠性与失效分析 TN303/2140

    馆藏复本：5
    可借复本：4     卢其庆, 张安康编
    江苏科学技术出版社 1981
    (0) 馆藏

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