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检索到 8 条 分类号=TN307 的结果    

 


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  1. 中文图书1.晶体管特性图示仪原理与使用 TN32/3324

    馆藏复本:2
    可借复本:1
    梁华编著
    人民邮电出版社 1980
    (0) 馆藏

  2. 中文图书2.晶体管特性图示仪原理与使用.修订本 TN32/3324/ -1

    馆藏复本:3
    可借复本:2
    梁华编著
    人民邮电出版社 1986
    (0) 馆藏

  3. 中文图书3.晶体管特性图示器 TN32/4496

    馆藏复本:3
    可借复本:2
    蔡光显编
    水利电力出版社 1989
    (0) 馆藏

  4. 中文图书4.半导体的检测与分析 TN307/5062

    馆藏复本:5
    可借复本:4
    中国科学院半导体研究所理化分析中心研究室著
    科学出版社 1984
    (0) 馆藏

  5. 中文图书5.半导体测量和仪器 TN307/7557

    馆藏复本:5
    可借复本:4
    (美) 鲁尼安编著
    上海科学技术出版社 1980
    (0) 馆藏

  6. 中文图书6.半导体测试技术 TN307/1924

    馆藏复本:3
    可借复本:2
    孙以材编著
    冶金工业出版社 1984
    (0) 馆藏

  7. 中文图书7.电力半导体器件中间测试技术 TN3/1085

    馆藏复本:3
    可借复本:2
    王益成, 苏文成编著
    机械工业出版社 1990
    (0) 馆藏

  8. 中文图书8.半导体的检测与分析.第2版 TN307/5062/ -2

    馆藏复本:3
    可借复本:2
    许振嘉主编
    科学出版社 2007
    (0) 馆藏


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