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检索到 3 条 分类号=TN407 馆藏地=12楼南外文图书阅览室 的结果    

 


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  1. 西文图书1.Microelectronics measurement technology seminar : proceedings : March 11-12, 1980, San Jose, CA / TN407-53/M626

    馆藏复本：1
    可借复本：0     organized and producted by Benwill Publishing Corporation.
    Benwill Publishing Corporation, 1980.
    (0) 馆藏

  2. 西文图书2.Computer-aided circuit analysis using SPICE / TN407/B219

    馆藏复本：1
    可借复本：0     Walter Banzhaf.
    Prentice Hall, c1989.
    (0) 馆藏

  3. 西文图书3.Applied formal verification / TN407/P462

    馆藏复本：1
    可借复本：0     Douglas L. Perry, Harry D. Foster.
    McGraw-Hill, c2005.
    (0) 馆藏

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