检索到 8 条 分类号=TN407 馆藏地=理科综合阅览室 的结果
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中文图书1.万用表速测集成电路数据大全 TN407/5010
馆藏复本：2
可借复本：1 《电子文摘报》编辑部编
电子科技大学出版社 1992
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中文图书2.怎样用万用电表检测集成电路 TN4/8010
馆藏复本：3
可借复本：2 金正等编著
人民邮电出版社 1995
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中文图书3.集成电路芯片测试 TN407/1044
馆藏复本：2
可借复本：1 主编王芳, 徐振
浙江大学出版社 2014
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中文图书4.SOC测试 TN407/1020
馆藏复本：2
可借复本：1 编著雷绍充 ... [等]
西安交通大学出版社 2012
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中文图书5.SystemVerilog验证:测试平台编写指南 TP312/9120/ 2
馆藏复本：3
可借复本：2 (美) 克里斯·斯皮尔著
科学出版社 2009
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中文图书6.现代集成电路测试技术 TN407/1722
馆藏复本：2
可借复本：1 《现代集成电路测试技术》编写组
化学工业出版社 2006
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中文图书7.混合信号集成电路测试与测量 TN407/1580
馆藏复本：3
可借复本：2 (美) Mark Burns, Gordon W. Roberts等著
电子工业出版社 2009
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中文图书8.常用集成电路实测数据手册 TN407-62/4483
馆藏复本：2
可借复本：0 蒋颂军, 何晓帆主编
化学工业出版社 2005
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