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中文图书1.电子元器件可靠性设计 TN602/1049
馆藏复本:3
可借复本:2 王蕴辉, 于宗光, 孙再吉主编
科学出版社 2007
(0) 馆藏 -
中文图书2.电子产品可靠性预计 TN606/1246
馆藏复本:3
可借复本:2 张增照, 潘勇著
科学出版社 2007
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馆藏复本:3
可借复本:2 王蕴辉, 于宗光, 孙再吉主编
科学出版社 2007
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馆藏复本:3
可借复本:2 张增照, 潘勇著
科学出版社 2007
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